题目：电阻抗断层成像技术（EIT）中的数学理论

报告人：  谭忠 教授（厦门大学）

Abstract : 从电阻抗断层成像技术的原理开始，建立了偏微分方程的数学模型。该模型的特点是区域边界上呈现热方程，经过Sobolev迹嵌入不等式的处理得到了具有临界Sobolev指数的热方程。通过经典凹方法和奇性分析方法，得到了不同初值所带来的解的blowup性质或长时间渐近性质，有一类特殊的初值使其解在时间点列趁于无限时在有限点上产生集中现家。

时间：12月21日（周五）下午3:00--4：00地点：565net必赢客户端本部教二楼 613 教室

联系人：酒全森

欢迎全体师生积极参加！